HOME > Presentation > Detailオペランド表面電位顕微鏡を用いた有機アンチ・アンバイポーラトランジスタのキャリア伝導評価(Evaluation of Carrier Transport in Organic Antiambipolar Transistors Using Operando Kelvin Probe Force Microscopy)吉川 康介, 早川 竜馬, 山田 洋一, 福本 恵紀, 若山 裕. 2026年第87回 応用物理学会秋季学術講演会. September 08, 2026-September 11, 2026.NIMS author(s)HAYAKAWA, RyomaWAKAYAMA, YutakaFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2026-10-23 03:06:56 +0900 Updated at: 2026-10-23 03:06:56 +0900