HOME > 口頭発表 > 書誌詳細導波路波長変換デバイスにおける非破壊の均一性評価法(Non-destructive uniformity characterization in waveguide-type wavelength converters)寺崎 章宏, 菊池 清史, Y. Ogiso, 栗村 直, 高 磊, 中島 啓幾. MOC 2009 15th MICROOPTICS CONFERENCE . 2009年10月25日-2009年10月28日.NIMS著者栗村 直Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:52:05 +0900 更新時刻: 2017-07-10 20:42:00 +0900