HOME > 口頭発表 > 書誌詳細収差補正された超高真空走査透過電子顕微鏡での5次の球面収差係数の測定(C5 measurement on Cs corrected scanning transmission electron microscope)三石 和貴, 竹口 雅樹, 三宮工, 細川史生, 近藤行人, 古屋 一夫. 第53回応用物理学会講演会. 2006.NIMS著者三石 和貴竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:44:09 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:36:22 +0900