(Electron-beam-induced deposition of position and size controlled structures by an advanced transmission electron microscope)
第13回ヨーロッパ顕微鏡会議(EMC2004). 2004.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:39:39 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:06:01 +0900