HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Electron-beam-induced deposition of position and size controlled structures by an advanced transmission electron microscope)古屋 一夫, 三石 和貴, 下条 雅幸, 長谷川 明, 田中 美代子, 竹口 雅樹. 第13回ヨーロッパ顕微鏡会議(EMC2004). 2004年08月23日-2004年08月27日.NIMS著者三石 和貴田中 美代子竹口 雅樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:39:39 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:06:01 +0900