HOME > Presentation > Detail高周波走査型トンネル顕微鏡の作製と評価Ⅱ(Calibration and manufacture of high frequency scanning tunneling microscopy Ⅱ)町田 理, ガイフーリン マラット, 平田 和人, 大井 修一. 日本物理学会2008年秋季大会. September 20, 2008-September 23, 2008.NIMS author(s)HIRATA, KazutoOOI, ShuuichiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 03:53:56 +0900Updated at: 2018-05-21 20:22:36 +0900