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Double-cap法により成長したInP上InAs量子ドットの断面STM観察

中村新男, 赤沼泰彦, 山川市朗, 佐久間 芳樹, 臼杵達哉.
日本顕微鏡学会第63回学術講演会. 2007. 招待講演

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    作成時刻 :2017-01-08 04:12:37 +0900 更新時刻 :2024-03-05 11:41:30 +0900

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