HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Low temperature oxidation of Si (100) with ozone radicals: Chemical Reaction Mechanism and Surface stress)成島哲也, 板倉 明子, 北島 正弘, 三木 一司. Internatinal conference on Solid States Devices and Materials. 2002年09月17日-2002年09月20日.NIMS著者板倉 明子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:06:04 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:38:35 +0900