HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Laboratory X - ray reflectivity technique for negative thermal expansion study on polymer thin filmリュウ ユーウェイ, 櫻井 健次. 第3回 TIA光・量子計測シンポジウム. 2018.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-09-15 16:13:40 +0900更新時刻: 2018-09-15 16:13:40 +0900
