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著者名Bin Han, 清水康雄, ヨ メイカ, ジェバスワン ウイパコーン, 深田 直樹, 井上耕治, 永井康介.
タイトルアトムプローブ法による単一Ge/Si/Geダブルコアシェルナノワイヤ中の元素分布
(Elemental Distributions in Individual Ge/Si/Ge Core-Double Shell Nanowires Investigated by Atom Probe Tomography)
会議名秋季第75回応用物理学会学術講演会
発表年2015
言語Japanese
外部での文献参照

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