アトムプローブ法による単一Ge/Si/Geダブルコアシェルナノワイヤ中の元素分布
(Elemental Distributions in Individual Ge/Si/Ge Core-Double Shell Nanowires Investigated by Atom Probe Tomography)
秋季第75回応用物理学会学術講演会. 2015.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 03:21:45 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:20:07 +0900