HOME > 口頭発表 > 書誌詳細窒化処理シリコン酸化膜の応力変動と膜質評価(Surface stress during nitridation of SiO2 and the structure of the film)板倉 明子, 北島 正弘. 第43回真空に関する連合講演会. 2002年10月16日-2002年10月18日.NIMS著者板倉 明子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:25:18 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:32:51 +0900