HOME > 口頭発表 > 書誌詳細放射光X線回折を用いた結晶性薄膜の構造評価坂田 修身. 透明酸化物光・電子材料第166委員会 第64回研究会. 2014. 招待講演NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-01-08 03:47:06 +0900 更新時刻 :2024-03-05 11:45:12 +0900