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走査4 探針原子間力顕微鏡によるグラフェン電気抵抗率計測
(Resistivity measurement of graphene using quadruple-scanning-probe force microscope)

著者久保 理, 樋口 誠司, 倉持 宏実, 中山 知信, 青野 正和.
会議名2011年春季 第58回 応用物理学関係連合講演会
発表年2011
言語Japanese

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