走査4 探針原子間力顕微鏡によるグラフェン電気抵抗率計測
(Resistivity measurement of graphene using quadruple-scanning-probe force microscope)
2011年春季 第58回 応用物理学関係連合講演会. 2011.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-01-08 04:28:38 +0900更新時刻: 2018-06-05 12:52:42 +0900