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走査4 探針原子間力顕微鏡によるグラフェン電気抵抗率計測
(Resistivity measurement of graphene using quadruple-scanning-probe force microscope)

久保 理, 樋口 誠司, 倉持 宏実, 中山 知信, 青野 正和.
2011年春季 第58回 応用物理学関係連合講演会. 2011.

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    Created at :2017-01-08 04:28:38 +0900 Updated at :2018-06-05 12:52:42 +0900

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