HOME > Presentation > Detail走査4 探針原子間力顕微鏡によるグラフェン電気抵抗率計測(Resistivity measurement of graphene using quadruple-scanning-probe force microscope)久保 理, 樋口 誠司, 倉持 宏実, 中山 知信, 青野 正和. 2011年春季 第58回 応用物理学関係連合講演会. 2011.NIMS author(s)NAKAYAMA, TomonobuAONO, MasakazuFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at :2017-01-08 04:28:38 +0900 Updated at :2018-06-05 12:52:42 +0900