HOME > 口頭発表 > 書誌詳細二探針STMによるErSi2ナノワイヤの電気抵抗測定(Electrical resistance measurements on ErSi2 nanowire by dual-probe STM)久保 理, Suk Pil KIM, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信, 青野 正和. 第64回応用物理学会学術講演会. 2003年08月30日-2003年09月02日.NIMS著者新ヶ谷 義隆青野 正和Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 03:34:53 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:47:20 +0900