(Development of sputtered neutral mass spectrometer to analyze sub-micron noble gas distribution)
The international Symposium on SIMS and Related Techniques Based. 2013年04月25日-2013年04月26日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-14 11:46:54 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:36:50 +0900