二探針STM法によるErSi2ナノワイヤーの電気伝導測定
(Electrical Conductance Measurement through ErSi2 Nanowire Using Double-Probe Scanning Tunneling Microscopy)
15th International Congress on Electron Microscopy. 2002年09月01日-2002年09月06日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-18 02:51:03 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:31:19 +0900