HOME > 口頭発表 > 書誌詳細酸化亜鉛基薄膜中の欠陥状態・欠陥濃度に対する成膜雰囲気と添加物の影響(Effects of growth ambient and doping on concentration and chemical state of defects in ZnO films)両見 春樹, 坂口 勲, 安達 裕, 大垣 武, 竹中正, 大橋 直樹, 羽田 肇. 2004年春季応用物理学関係連合講演会. 2004. 招待講演NIMS著者坂口 勲安達 裕大垣 武大橋 直樹羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:51:45 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:40:06 +0900