HOME > 口頭発表 > 書誌詳細酸化亜鉛基薄膜中の欠陥状態・欠陥濃度に対する成膜雰囲気と添加物の影響(Effects of growth ambient and doping on concentration and chemical state of defects in ZnO films)両見 春樹, 坂口 勲, 安達 裕, 大垣 武, 竹中正, 大橋 直樹, 羽田 肇. 2004年春季応用物理学関係連合講演会. 2004年03月28日-2004年03月31日. 招待講演NIMS著者坂口 勲安達 裕大垣 武大橋 直樹羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:51:45 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:40:06 +0900