SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

酸化亜鉛基薄膜中の欠陥状態・欠陥濃度に対する成膜雰囲気と添加物の影響
(Effects of growth ambient and doping on concentration and chemical state of defects in ZnO films)

両見 春樹, 坂口 勲, 安達 裕, 大垣 武, 竹中正, 大橋 直樹, 羽田 肇.
2004年春季応用物理学関係連合講演会. 2004年03月28日-2004年03月31日. 招待講演

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-01-08 03:51:45 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:40:06 +0900

    ▲ページトップへ移動