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Siナノ結晶を含むSi熱酸化膜及びSiO2/Si界面での重水素挙動
(Behavior of deuterium atoms in thermally oxidized SiO2 layer containing silicon nanocrystals and at Si/ SiO2 interface)

辻村理俊, 内田紀行, 深田 直樹, 比田剣之輔, 小島健太郎, 岸本 直樹, 村上浩一.
2008年秋季 第69回応用物理学会学術講演会. 2008.

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    作成時刻: 2017-01-08 04:33:45 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:16:00 +0900

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