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化合物半導体のフェムト秒時間分解表面反射率のヘテロダイン法を用いた測定
(Femtosecond Time-resblved Measurement of Reflectivity of GaAs by Using OHD)

中村一隆, 丑田公規, 柴田裕康, 中村一隆, 丑田公規, 柴田裕康.
分光学会. 1997年05月20日-1997年05月21日.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2017-02-18 01:15:21 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:41:53 +0900

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