HOME > 口頭発表 > 書誌詳細高温機器の長時間クリープ試験による寿命評価技術と今後の動向木村 一弘. 産業科学システムズセミナー. 2012. 招待講演NIMS著者木村 一弘Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:36:36 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:44:15 +0900
