アトムプローブトモグラフィによるGe/Si/Geダブル コアシェルナノワイヤ中の元素分布
(Elemental Distributions in Individual Ge/Si/Ge Core-Double Shell Nanowires Investigated by Atom Probe Tomography)
秋季第74回応用物理学会学術講演. 2014年09月17日-2014年09月20日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:04:07 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:58:28 +0900