HOME > 口頭発表 > 書誌詳細クリプトン・酸素希釈酸化中のシリコン表面応力変動(The surface stress during plasma oxidation by using kripton and oxygen mixture gas.)板倉明子, 北島 正弘, 成島哲也, 板倉明子, 成島哲也. 極薄シリコン酸化膜の形成・評価・信頼性(第6回研究会). 2001年01月26日-2001年01月27日.NIMS著者板倉 明子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:36:20 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:11:00 +0900