硬X線光電子分光法による自然酸化膜/BaSi2のバンドオフセット測定
(Measurement of valence-band offset at native oxide/BaSi2 interfaces using hard x-ray photoelectron spectroscopy)
第76回応用物理学会秋季学術講演会. 2015年09月13日-2015年09月16日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:09:21 +0900更新時刻: 2018-06-05 13:47:43 +0900