CCDカメラを用いて測定した電子回析強度から求めたCu3Au及びB添加したNi3Alの粒界近傍における長範囲規則度
(Long-range Order Parameter NearGrain Bounding in Cu3Au and B-Doped Ni3Al Determined from Electron Diffraction Intensities Detect)
Sixth Asia-Pasific Conference on Electron Microscopy（第６回アジ. 1996年07月01日-1996年07月05日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 03:59:45 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:35:35 +0900