HOME > 口頭発表 > 書誌詳細TOF-SIMSによるSi/Al界面の評価(Interface Evaluation of Si/ Al using TOF-SIMS)渡邉 騎通, Jakub Szabelewski, 間宮 広明, 大久保雅隆, 北澤 英明. 2016年真空・表面科学合同講演会. 2016.NIMS著者間宮 広明北澤 英明Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:27:12 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:33:04 +0900