HOME > Presentation > DetailTOF-SIMSによるSi/Al界面の評価(Interface Evaluation of Si/ Al using TOF-SIMS)渡邉 騎通, Jakub Szabelewski, 間宮 広明, 大久保雅隆, 北澤 英明. 2016年真空・表面科学合同講演会. 2016.NIMS author(s)MAMIYA, HiroakiKITAZAWA, HideakiFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-01-08 05:27:12 +0900Updated at: 2017-07-10 22:33:04 +0900