HOME > 口頭発表 > 書誌詳細C60薄膜のラマンシフトと計測の不確かさ(Raman Shifts and Measurement Uncertainty of a C60 Thin Film)今野 俊生, 若原 孝次, 宮澤 薫一. ナノファイバー学会第6回年次大会. 2015.NIMS著者若原 孝次Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:06:24 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:10:53 +0900