HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(A study of quantum phenomenon on Si(100) and Ge(100) using scanning tunneling microscopy)鷺坂 恵介, 藤田 大介. 2nd International Center for Young Scientists Symposium. 2005.NIMS著者鷺坂 恵介藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-25 01:07:04 +0900 更新時刻 :2017-07-10 19:31:27 +0900