SAMURAI - NIMS Researchers Database

NIMS Awardシンポジウム2026

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

走査型プローブ顕微鏡下での強誘電体ドメインのナノ加工
(Nanoscale ferroelectric domain engineering using a scanning probe microscope)

樋口慎二, 寺部 一弥, 中村優, 竹川俊二, 北村健二.
春季第49回応用物理学関係連合講演会. 2002-03-28.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-02-18 02:35:08 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:24:11 +0900

    ▲ページトップへ移動