HOME > 口頭発表 > 書誌詳細シリコンおよびゲルマニウムナノワイヤ中への不純物ドーピング制御と評価(Doping and characterization of impurity atoms in silicon and germanium nanowires)深田 直樹. Nanowires 2011. 2011年06月13日-2011年06月19日. 招待講演NIMS著者深田 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:57:34 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:43:31 +0900