HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Siの極薄酸化膜形成による微小表面応力の測定(Surface Stress of ultra then oxide layer on Si(100))板倉 明子, 北島 正弘, 成島哲也, 河辺隆也, 成島哲也, 河辺隆也. 表面学会 (第18回表面科学講演大会). 1998年12月01日-1998年12月03日.NIMS著者板倉 明子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 01:34:49 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:52:00 +0900