HOME > 口頭発表 > 書誌詳細不足ドープBi系銅酸化物高温超伝導体における不純物状態のSTM観察(STM observation of impurity-induced-states in underdoped Bi based cuprate)町田 理, ガイフーリン マラット, 茂筑 高士, 平田 和人. 日本物理学会2007年度秋季大会. 2007年09月21日-2007年09月24日.NIMS著者茂筑 高士平田 和人Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:43:17 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:58:12 +0900