HOME > 口頭発表 > 書誌詳細オンチップ校正型高周波測定によるSrTiO3コンデンサの低温特性評価白地 昭豊鏡, 篠﨑 基矢, 富岡泰秀, 井上 悠, 伊東 謙汰, 小塚 裕介, 渡邉孝信, 佐藤彰一, 熊坂武志, 大塚 朋廣. 日本物理学会 第80回年次大会 (2025年). 2025年09月16日-2025年09月19日.NIMS著者小塚 裕介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2025-10-24 03:10:06 +0900 更新時刻: 2025-10-24 03:10:06 +0900
