HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Rapid Thickness Identification and Electronic Transport in MoS2 Atomic Sheets)黎 松林, 塚越 一仁. ICYS Workshop FY2012. 2012年12月19日-2012年12月21日.NIMS著者塚越 一仁Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:57:42 +0900更新時刻: 2018-06-05 13:17:21 +0900