HOME > 口頭発表 > 書誌詳細EBIDとイオンによるナノ構造作成:TEM試料作成への応用(Nano-fabrication using EBID and ion milling:TEM sample preperations)三石 和貴, 下条 雅幸, 竹口 雅樹, 田中 美代子, 古屋 一夫. 第65回応用物理学会学術講演会. 2004年09月01日-2004年09月04日.NIMS著者三石 和貴竹口 雅樹田中 美代子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:31:20 +0900 更新時刻: 2017-07-10 19:05:52 +0900