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(Analysis of bainitic transformation process in Cu-Al-Mn Alloy by using an orthogonally arranged FIB-SEM for precise 3D microstructure analysis)

本村俊一, 原 徹, 西田稔, 大森俊洋, 貝沼亮介, 麻畑達也, 藤井利昭.
18th. International Microscopy Congress. 2014年09月07日-2014年09月12日.

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    作成時刻: 2017-02-14 11:19:46 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:53:04 +0900

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