HOME > 口頭発表 > 書誌詳細20kHz試験によるギガサイクル疲労特性と介在物の評価(Application of 20 kHz tests to gigacycle fatigue tests and inclusion inspections)古谷 佳之. 日本機械学会 2003年度年次大会. 2003年08月05日-2003年08月08日. 招待講演NIMS著者古谷 佳之Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:29:07 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:39:49 +0900