HOME > 口頭発表 > 書誌詳細軽イオン照射試験片用高温・高精度疲労試験装置の開発(Development of High Precision Fatigue Instrumentation for High Temperature Testing of Light Ion Irradiated Specimens)山本 徳和, 中頭 利則, 村瀬 義治, 永川 城正. 日本金属学会2003年秋期(第133回)大会. 2003年10月11日-2003年10月13日.NIMS著者村瀬 義治Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:39:52 +0900 更新時刻: 2017-07-10 18:47:09 +0900