HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Competition between Strain Enhancement and Short-Channel-Related Degradation in Short-Channel FETs with MOCVD-Grown Single-Crystalline MoS2渥美 圭脩, 西村 知紀, 金橋 魁利, 岡田 直也, 入沢 寿史, SAKUMA, Yoshiki, 長汐 晃輔. SSDM 2026 (2026 International Conference on Solid State Devices and Materials). 2026年09月14日-2026年09月17日.NIMS著者佐久間 芳樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2026-09-19 03:06:54 +0900 更新時刻: 2026-09-19 03:06:54 +0900