HOME > 口頭発表 > 書誌詳細硬X線光電子分光法による誘電体Fe:SrTiO3の電子構造評価(Characterization of electronic structure in dielectric Fe:SrTiO3 single crystals by using hard X-ray photoemission spectroscopy)廣瀬左京, 上田 茂典, 大橋 直樹. 第56回セラミックス基礎討論会. 2018年01月11日-2018年01月12日.NIMS著者上田 茂典大橋 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-11-21 23:09:05 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:15:12 +0900