HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電子線照射によるSiO2薄膜損傷の入射角依存性佐藤 秀勝, 福島 整, 木村 隆, 田沼 繁夫. 第27回表面科学講演大会. 2007.NIMS著者木村 隆Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:24:09 +0900更新時刻: 2018-06-05 12:08:56 +0900