HOME > 口頭発表 > 書誌詳細薄膜ヤング率の測定と、その膜厚効果(Thickness effect on Young)板倉 明子, 戸田雅也, 佐々木信也, Sascha Pihan, Ruediger Berger. JST さきがけナノテク融合領域 懇話会. 2009年11月24日-2009年11月25日.NIMS著者板倉 明子Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:06:38 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:39:24 +0900
