HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Electric conductivity measurement of nanowires by multi-probe scanning tunneling microscope)久保 理, 新ヶ谷 義隆, 中山 知信, 青野 正和. 日英ナノテクノロジーシンポジウム. 2005. 招待講演NIMS著者新ヶ谷 義隆中山 知信青野 正和Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:34:08 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:40:35 +0900