Si基板上に直接成長させたGe膜のRBS測定
(RBS analysis of the Ge layer directly grown on Si substrate)
The IUMRS International Conference in Asia 2008. 2008年12月09日-2008年12月13日.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 10:58:44 +0900 更新時刻: 2017-07-10 20:22:06 +0900