Si基板上に直接成長させたGe膜のRBS測定
(RBS analysis of the Ge layer directly grown on Si substrate)
The IUMRS International Conference in Asia 2008. 2008.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-14 10:58:44 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:22:06 +0900