TEM像に対するパーシステントホモロジーの適用による単層グラフェン欠陥構造の定量的解析
(Quantitative analysis of TEM images of defective mono-layer graphene via persistent homology)
2025年 第72回応用物理学会 春季学術講演会. 2025年03月14日-2025年03月17日.
NIMS著者
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作成時刻: 2025-04-22 03:07:02 +0900 更新時刻: 2025-04-22 03:07:02 +0900