HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Si(111)上Bi薄膜の一次元エッジ状態(One-dimensional edge state of Bismuth thin film on Si(111))川上直也, 林俊良, 川合眞紀, 荒船 竜一, 高木紀明. 日本物理学会2015年秋季大会. 2015.NIMS著者荒船 竜一Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:36:30 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:13:30 +0900