HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Characterization of JA DEMO candidate reinforced Nb3Sn wires under contact stressBANNO, Nobuya, ASANO, Toshihisa, 谷貝 剛, 川嶋 慎也, 杉本 昌弘, 淡路 智, 宇藤 裕康, 坂本 宜照. International Conference on Magnet Technology (MT-28). 2023年09月10日-2023年09月15日.NIMS著者伴野 信哉Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2023-12-22 09:27:41 +0900 更新時刻: 2023-12-22 09:27:41 +0900