Si基板上に直接成長させたGeのDLTS測定
(DLTS measurement of Ge directly grown on Si substrate)
2010年秋期第71回応用物理学術講演会. 2010年09月14日-2010年09月17日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-01-08 03:42:01 +0900 更新時刻: 2017-07-10 20:52:29 +0900