HOME > 口頭発表 > 書誌詳細走査型プローブ顕微鏡による半導体点欠陥の観察(STM observation of point defects on semiconductor surfaces)鷺坂 恵介. 第23回結晶工学セミナー ワイドギャップ半導体結晶の評価技術. 2018. 招待講演NIMS著者鷺坂 恵介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2019-03-04 09:37:14 +0900 更新時刻 :2024-03-05 12:20:57 +0900