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走査型プローブ顕微鏡による半導体点欠陥の観察
(STM observation of point defects on semiconductor surfaces)
第２３回結晶工学セミナー ワイドギャップ半導体結晶の評価技術. 2018. Invited
NIMS author(s)
Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)
Created at: 2019-03-04 09:37:14 +0900Updated at: 2024-03-05 12:20:57 +0900